摘要:
数字电路中的电阻性开路引起时滞性故障,会使电路的功能失效。针对此故障,本文在分析数字电路的瞬态电流IDDT测试和主成分分析技术的基础上,研究了小波-神经网络诊断电阻性开路故障的方法。结果表明,使用小波-神经网络的数字电路的IDDT方法行之有效。
中图分类号:
余长庚, 赖丽萍. 基于小波-神经网络的电阻性开路故障诊断方法[J]. J4, 2013, 26(1): 56-59.
YU Chang-Geng, LAI Li-Ping. Wavelet analysis and neural network based fault diagnosis for resistive-open defects[J]. J4, 2013, 26(1): 56-59.