J4 ›› 2010, Vol. 23 ›› Issue (1): 28-31.
刘文军, 薛成山, 石锋, 庄惠照, 郭永福
LIU Wen-Jun, XUE Cheng-Shan, SHI Feng, ZHUANG Hui-Zhao, GUO Yong-Fu
摘要:
通过在1000 ℃下氨化锰掺杂Ga2O3薄膜制备了大量GaMnN纳米条。采用此法得到的剑状Mn掺杂GaN纳米条是六方纤锌矿结构,Mn的原子百分比是5.43%,纳米条的厚度大约为100 nm,宽度为200~400 nm。X射线衍射(XRD)、扫描电镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、高分辨透射电子显微镜(HRTEM)、选区电子衍射(SAED)、X射线光电子能谱(XPS)和荧光分光光度计(PL)用于表征所制备纳米条形貌及光学性质。室温下以325 NM波长的光激发样品表面,发现由于Mn的掺杂使GaN的发光峰有较大的红移。最后,简单讨论了GaN纳米条的生长机制
中图分类号:
TN304.23